正置金相显微镜作为材料科学领域的关键工具，其照明技术直接影响成像质量与分析效率。目前主流的照明技术包括明场照明、暗场照明、偏光照明及微分干涉（DIC）照明，每种技术均通过独特的光路设计实现特定分析需求。
明场照明是正置显微镜的基础模式，光线经聚光镜汇聚后垂直照射样品，反射光通过物镜形成明亮视场。该技术适用于观察抛光后浸蚀的金属试样，可清晰呈现晶界、相界等结构。通过调节孔径光阑控制光束孔径角，可优化分辨率与景深平衡。
暗场照明通过环形光阑使光线斜射样品，仅散射光进入物镜，形成高对比度暗背景图像。该技术对表面缺陷、细小析出物检测具有优势，例如在铝合金中可清晰观察直径小于1μm的夹杂物。暗场模式下需关闭视场光阑以减少杂散光干扰。
偏光照明通过插入起偏镜与检偏镜，利用晶体的双折射特性分析材料相组成。在钢铁材料研究中，偏光技术可区分铁素体、奥氏体等各向异性相，结合角度旋转测量可定量计算相比例。
微分干涉照明（DIC）通过渥拉斯顿棱镜将光束分成两束偏振光，经样品反射后产生相位差，形成浮雕效果图像。该技术对表面形貌敏感，在半导体晶圆检测中可识别0.1μm级的台阶高度变化。
应用指南：
基础观察优先选择明场模式，配合5X-100X物镜实现从宏观到微观的连续观测。
缺陷检测切换至暗场模式，提升低对比度缺陷的可见度。
晶体分析启用偏光装置，结合旋转载物台完成相鉴定。
表面形貌采用DIC技术，通过三维重建功能量化表面粗糙度。
实际使用时需注意：柯勒照明校准可确保视场均匀性；滤色片选择（如绿色滤光片）能增强特定结构对比度；定期清洁聚光镜与光阑组件可维持系统性能。通过多模式照明组合，正置金相显微镜可满足从基础研究到工业质检的多元化需求。
更新时间：2025-10-20
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